Fabrice Gaslain, spécialiste en microscopie électronique à balayage (MEB) au Centre des Matériaux de l’Ecole des Mines à Evry, a rejoint la plate-forme de Microscopie électronique de Genopole, offrant ainsi aux génopolitains l’opportunité d’utiliser le microscope Nova NanoSEM 450 (FEI) pour l’analyse de leurs échantillons.

La colonne haute résolution de ce MEB permet d’atteindre le nanomètre et un grandissement qui s’étend de x 35 à x 600 000 avec une largeur de champ comprise entre 3,6 mm et 200 nm. Il dispose de nombreux détecteurs pour la microanalyse X à sélection d’énergie mais également d’un système d’acquisition multichamps automatique.

Cette nouvelle technologie, dorénavant accessible aux laboratoires et entreprises de Genopole, complète l’offre de microscopie électronique en transmission de la plate-forme.

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